Vue totale : Inspection par rayons X avec Dual View
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Récipients en verre et boîtes : Inspection optimale des zones de fond et de couvercle grâce à Dual View de Wipotec
En entretien avec Hasan Uygul, Director Global Sales for Product Inspection Systems, Michael Siegrist, Product Manager X-ray, présente la technologie Dual View des systèmes d'inspection par rayons X de Wipotec. Grâce à des chemins optiques parallèles au couvercle et au fond, Dual View résout le problème des parois latérales et des fonds aussi bien pour les récipients en verre que pour les boîtes. Dans cette vidéo, Michael Siegrist démontre que le fond peut aussi être inspecté en présence d'une languette d'ouverture. Celle-ci ne sera plus un obstacle lors de la détection des corps étrangers. Autre avantage : La technologie Dual View de Wipotec permet également de déterminer avec précision le niveau de remplissage du produit.